Mikroskpia SPM: STM, AFM, TM-AFM, NC-AFM, EFM, Kelvin Probe

Wykonujemy rejestrację obrazów następującymi technikami:

1. Scanning Tunneling Microscopy (STM)
   Mikroskop wyposażony w urządzenia, które umożliwiają rejestrację obrazów elektrod podczas pomiarów elektrochemicznych.
   
   
2. Atomic Force Microscopy (AFM)
   Mikroskop wyposażony w przystawkę do badań oscylacyjnych w trybie "Tapping" oraz "Non Contact".

Skaningowy mikroskop tunelowy (STM/AFM)

Opiekun przyrządu

Opiekun:  dr hab. Marek Szklarczyk
Tel. 0 22 822 02 11 w. 270
e-mail: szklarcz@chem.uw.edu.pl

Aparatura

Znajdujący się w Wydziałowym Laboratorium Pomiarowym zestaw mikroskopów STM (Scanning Tunneling Microscope) i AFM (Atomic Force Microscope), Nanoscope III i Nanoscope  V produkcji firmy Digital Instruments  są zestawami umożliwiającymi prowadzenie badań powierzchni w środowiskach gazowych i ciekłych, oraz każdego rodzaju próbek od przewodzących po izolatory.

Mikroskop STM, przeznaczony do badań substancji przewodzących i półprzewodzących, wyposażony jest w dwa niezależne skanery, samopoziomujący się 12 mm, oraz wysokoczuły 0,5 mm. Taki układ skanerów umożliwia badania z dokładnością do 0,03 nm., czyli osiąganie powiększeń atomowych. Posiadane oprogramowanie umożliwia całkowitą obróbkę rejestrowanych obrazów jak wykonywanie badań z zakresu spektroskopii tunelowania. Mikroskop STM wyposażony jest również w naczyńko elektrochemiczne i odpowiedni potencjostat. Elektrochemiczne wyposażenie umożliwia prowadzenie takich badań jak na przykład korozji, mechanizmów reakcji powierzchniowych i adsorpcji w rzeczywistym czasie ich zachodzenia. Stanowisko mikroskopu STM jest wyposażone w zestaw do przygotowania ostrzy, jak i ich ewentualnej izolacji koniecznej do badań w roztworach.

Mikroskop AFM przeznaczony jest do badań wszystkich rodzajów substancji, od przewodników po izolatory. Przyrząd ten jest również wyposażony w dwa niezależne skanery, samopoziomujący się 12 mm, oraz wysokoczuły 0,5 mm. Mikroskop AFM posiada przystawkę do badań oscylacyjnych, w tzw. trybie "Tapping" co umożliwia badanie substancji miękkich, takich jak na przykład białka, DNA, polimery, itp. bez naruszenia ich struktury. Jest on również wyposażony w zestaw elektrochemiczny.

Cały zestaw mikroskopów umieszczony jest na stole powietrznym przeciw wstrząsowym, co minimalizuje wpływ drgań na otrzymane wyniki.

Opis metody

Wspólne oprogramowanie obu mikroskopów umożliwia określanie wielu parametrów związanych ze strukturą i morfologią powierzchni. Na przykład, można określać krystalografię adsorbatu, badać przekroje poprzeczne, obliczać nierówność powierzchni, określać statystykę wielkości naniesionych osadów, jak i częstości występowania poszczególnych wymiarów.

Koszt analiz

Próbce dostarczanej do analizy powinno towarzyszyć wypełnione zamówienie.

1. Pomiar STM w powietrzu: 90 zł.
2. Pomiar STM w roztworze: 140 zł.
3. Pomiar STM w roztworze z elektrochemią: 180 zł.
4. Pomiar AFM techniką kontaktową w powietrzu: 120 zł.
5. Pomiar AFM techniką kontaktową w roztworze: 150 zł.
6. Pomiar AFM techniką kontaktową w roztworze z elektrochemią: 190 zł.
7. Pomiar AFM techniką oscylacyjną (Tapping) w powietrzu: 150 zł.
8. Pomiar AFM techniką oscylacyjną (Tapping) w roztworze: 180 zł.
9. Pomiar AFM techniką oscylacyjną (Tapping) w roztworze przemiennie z elektrochemią: 220 zł.

Ceny pomiarów technikami typu EFM, Kelvin Probe, mapowanie właściwości mechanicznych do uzgodnienia.

Ceny zawierają całkowity koszt pomiaru.

Ceny nie zawierają kosztów interpretacji i opracowania wyników, które mogą być ustalone pomiędzy zainteresowanymi stronami.

Koszty szkolenia (12 godz., dwie osoby): 1800 zł.

Uwaga: Wszystkie podane ceny są cenami netto (bez podatku VAT).